ZA_SLIDER_01_SG

Potenziare
la vostra conoscenza.

ZA_SLIDER_04_SG

Ampliare
gli orizzonti.

ZA_SLIDER_03_SG

Zeiss Academy
The knowledge Hub.



Topography and Refractive Index Measurement of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy

Autore Matthias Vaupel Carl Zeiss Microscopy GmbH, Germany (Agosto 2014)
Dimensione 1.71 MB
Tipo di file pdf
Questo contenuto è riservato ai soli utenti registrati. Per visualizzare il contenuto devi effettuare il login cliccando su accedi
Cerca nel portale

Cerca
Generic filters
Solo risultati esatti
Filter by Custom Post Type
ZEISS Academy.
The Knowledge Hub.

Scopri di più